1. 量測行程可依個別需求及特殊行程製訂。 2. 卓越的Nikon光學系統。 3. 嶄新觸控移動系統。 4. 氣囊式避震系統(可接收2000倍以上放大影像量測。 5. 超強旋避式技術(承重400公斤)。 6. 多功能超強影像量測分析軟體系統。

Han-Mi公司成立於1980年，歷史悠久，為韓國封裝設備之先驅。提供半導體封裝製程後半段所需之各種設備。

ECT Contact Products Group' latest versatile line of battery probes gives you the design flexibility to match your performa......

A bare board tester represents a sizeable investment, and choosing the right one is essential. It must maximize throughput,......

專業設計\生產:微細精密測試探針(0.02~0.25MM),懸臂\垂直.

Probe Head can be ordered individually and compatible with your existing space transformer

PCB是探測卡之關鍵元件之一, 除了提供制式PCB板之外, 我們也依客戶 的需求提供客供板設計, 應用在探測卡時可以增加測試的穩定度。

勵威電子提供客戶一系列完整的Cantilever Card, 採用環氧樹脂環技術, 適合運用在高密度, 小間距的測試環境中。

勵威電子自國外引進垂直探針技術, 並在台灣建立完備的維修服務以滿足 客戶探測面積陣列(覆晶式)及同時測試多種Multi Die IC的需求。

詳細說明： *RF High Speed Applocation *Coaxial probes down to 80um pitch *Up to 5 GHz *Al Cap over Copper *New probe materia......

Feature ・ Standard Cantilever Probe Card ・ Low Contact force ・ Stable Contact ・ High accu......

實現了低摩損清潔 可以處理各種不同類型的針頭 使用溫度高達130℃ 實現了低摩損清潔 可以處理各種不同類型的針頭 使用溫度高達130℃

Type DATA LINE / GATE LINE ONE UNIT Contact DATA, GATE LINE ONE CONTACT Test Size ......

ASIC CARD SPEC Pin Counts 1 ~ 800 Pin Fine Pitch 50um Flatness 10um Alignment ±2um ......

PH150XP晶圓探針卡是個可用於小尺寸測試和具成本效益的方案，對低密度DRAM元件(512MB及以下)，其測試源和每片晶圓有4個和更多的接觸。PH150XP晶圓探針卡在未來新的MicroSpring接點設計可以供應超過25,000個接點，對於測試高......

提供多種用途探針臺，包括：晶圓探針臺、平板(LCD/OLED)探針臺、RF探針臺、LD/PD探針臺、高低溫探針臺、表面電阻率探針臺、霍爾效應探針臺、客戶訂制探針臺； 提供探針臺部件，包括：長工作距離顯微鏡、防震桌、遮罩箱、探針座及各種探針、......