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首頁 > 產品>先進技術-半導體科技類> 測試材料 >  探針卡,被測試基板和其他探針系列(包含陶瓷和特殊用途探針卡)
 
產品

CVM客製化影像量測系列
CVM客製化影像量測系列
1. 量測行程可依個別需求及特殊行程製訂。 2. 卓越的Nikon光學系統。 3. 嶄新觸控移動系統。 4. 氣囊式避震系統(可接收2000倍以上放大影像量測。 5. 超強旋避式技術(承重400公斤)。 6. 多功能超強影像量測分析軟體系統。
ACE 久樂行有限公司 台灣

Auto Mold System
Auto Mold System
Han-Mi公司成立於1980年,歷史悠久,為韓國封裝設備之先驅。提供半導體封裝製程後半段所需之各種設備。
ACE 技鼎股份有限公司 台灣

Battery Interconnect Probes
Battery Interconnect Probes
ECT Contact Products Group' latest versatile line of battery probes gives you the design flexibility to match your performa......
ACE EVERETT CHARLES TECHNOLOGIES VIRGINIS.(US)

Single-Density
Single-Density
A bare board tester represents a sizeable investment, and choosing the right one is essential. It must maximize throughput,......
ACE EVERETT CHARLES TECHNOLOGIES VIRGINIS.(US)

微細精密測試探針(PCB\懸臂\垂直)探針卡(0.02~0.25MM)
專業設計\生產:微細精密測試探針(0.02~0.25MM),懸臂\垂直.
ACE 中芯精密測試公司 中國大陸

Probe Head
Probe Head
Probe Head can be ordered individually and compatible with your existing space transformer
ACE 旺矽科技股份有限公司 台灣

PCB
PCB(探測卡元件)
PCB是探測卡之關鍵元件之一, 除了提供制式PCB板之外, 我們也依客戶 的需求提供客供板設計, 應用在探測卡時可以增加測試的穩定度。
ACE 勵威電子股份有限公司 台灣

Cantilever Card
Cantilever Card
勵威電子提供客戶一系列完整的Cantilever Card, 採用環氧樹脂環技術, 適合運用在高密度, 小間距的測試環境中。
ACE 勵威電子股份有限公司 台灣

探針卡
探針卡
勵威電子自國外引進垂直探針技術, 並在台灣建立完備的維修服務以滿足 客戶探測面積陣列(覆晶式)及同時測試多種Multi Die IC的需求。
ACE 勵威電子股份有限公司 台灣

探針卡
探針卡
詳細說明: *RF High Speed Applocation *Coaxial probes down to 80um pitch *Up to 5 GHz *Al Cap over Copper *New probe materia......
ACE 崇越科技股份有限公司 台灣

Cantilever type Probe Card
Cantilever type Probe Card
Feature ・ Standard Cantilever Probe Card ・ Low Contact force ・ Stable Contact ・ High accu......
ACE 日本電子材料株式會社 中國大陸

探針卡清潔片
探針卡清潔片
實現了低摩損清潔 可以處理各種不同類型的針頭 使用溫度高達130℃ 實現了低摩損清潔 可以處理各種不同類型的針頭 使用溫度高達130℃
ACE 邁波斯精密研磨材料(上海)有限公司 中國大陸

Probe Unit
Probe Unit
Type DATA LINE / GATE LINE ONE UNIT Contact DATA, GATE LINE ONE CONTACT Test Size ......
ACE 聖仁電子科技(沈陽)有限公司 中國大陸

Probe Card
Probe Card
ASIC CARD SPEC Pin Counts 1 ~ 800 Pin Fine Pitch 50um Flatness 10um Alignment ±2um ......
ACE 聖仁電子科技(沈陽)有限公司 中國大陸

晶圓探針卡
晶圓探針卡(PH150XP)
PH150XP晶圓探針卡是個可用於小尺寸測試和具成本效益的方案,對低密度DRAM元件(512MB及以下),其測試源和每片晶圓有4個和更多的接觸。PH150XP晶圓探針卡在未來新的MicroSpring接點設計可以供應超過25,000個接點,對於測試高......
ACE FormFactor 台灣

變溫探針臺
變溫探針臺(CG-196)
提供多種用途探針臺,包括:晶圓探針臺、平板(LCD/OLED)探針臺、RF探針臺、LD/PD探針臺、高低溫探針臺、表面電阻率探針臺、霍爾效應探針臺、客戶訂制探針臺; 提供探針臺部件,包括:長工作距離顯微鏡、防震桌、遮罩箱、探針座及各種探針、......
ACE 實密國際貿易公司 中國大陸
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