1. 超高精密度的量測系統 2. 寬廣光源的選擇確保尺寸邊界之精準 3. 擁有超高N.A值•超長的工作距離(50mm)特性，無礙於工作有較高之 間隙 4. 15段光學變焦鏡頭提供在低倍率時的快速搜尋及高倍率時的精密量測 5. 友善的......

.非接觸式面 Mobility 量測儀器 2. 非接觸性量測, 可以量得以下資料: > Carrier Mobility >Carrier Density >面電阻 3. 適用Wafer 包括: GaAs, GaN, SiGe, In......

生產rohs有害金屬分析儀器天瑞儀器有限公司生產的EDX3000B型X 熒光光譜儀﹐因其具有無損樣品､快速､精確度高､操作簡便､售後服 務完善等優點受到廣大用戶的一致好評﹐已被許多國家偵測機構使用。 ROHS偵測儀-X熒光光譜儀,是世界公認......

晶圓厚度量 儀

Single coatings Multi coating systems Non-destructive testing Destructive testing

SL曲柄與蝸輪的緊密結合大大減少了泵的大小和重量。 同時，易威奇AX 系列計量泵以其公認的機械驅動裝置保證了泵的計量精 度（1%）和優越 的耐用性。AX系列計量泵有以下三個系列：液壓驅動膜 片，機械驅動膜 片式及栓塞式，規格齊全，適用範圍......

PZ2000為全自動薄膜量測系統，可量測基材直徑達 300mm。藉由橢圓 儀及反射儀技術，可量測樣品之厚度、折射率、消光係 數以及反射率， 可量測厚度範圍自0nm至數um

膜厚儀 原子力型臺階儀 薄膜應力 三維成像 膜厚儀 原子力型臺階儀 薄膜應力 三維成像

型号 Xi-LineTM200 工作台 200mm x 200mm手动/自动工作台可选 聚焦 自动 探测系统 高品质工......

CMI 900 / 950 系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層量測 儀器﹐有著非破壞﹐非接觸﹐多層合金量測﹐高生產力﹐高再現性等優 點的情況下進行表面鍍層厚度的量測﹐從品質管理到成本節約有著廣泛 的應用﹐用於電子零組件﹐半導體﹐P......

CMI做為世界級品牌在PCB行業已形成一個行業標準﹐90%以上的大型 企業都在使用CMI700做為同時量測電路板孔銅及面銅厚度的行業工具。 CMI 700可用於量測表面銅和穿孔內銅厚度。這款高擴展性的臺式測厚 儀系統能採用微電阻和電渦流兩種方法......

珆瑆公司銷售日本電子(JEOL)最新型超高解析度螢光元素分析儀(XRF), 專門用於歐盟規範有害物質(RoHS)檢測分析,以及膜厚測試,全功能分析 專業報告軟體,讓您一指掌握所有資訊!

阻值量測 resistivity量測 導電層膜厚量測 應用領域為-金屬導電層, 離子植入晶園,擴散晶圓, 太陽能晶圓

l 適用於bumped wafer、multifoils wafer in packaging、photoresist layer、MEMS、 SOI、GaAs、Glass l 可同時顯示多層不同材料厚度(最多8層) l 高精確度(sub-mic......