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Automatic Surface Inspection
Automatic Surface Inspection
The automatic web inspection system WebFeat provides quality control and production process monitoring for all flat web mat......
ACE Dr. Schenk GmbH Germany

Optical Media Inspection
Optical Media Inspection
Dr. Schenk offers innovative system solutions for quality assurance and process control of all disc formats
ACE Dr. Schenk GmbH Germany

Glass Inspection
Glass Inspection
Automatic inspection systems applied in all steps of flat panel display manufacturing, float glass production and processin......
ACE Dr. Schenk GmbH Germany

Manifold Particle Counting System
Manifold Particle Counting System
Allows a single particle counter to monitor as many as 32 sampling locations. The counter selected determines the size of p......
ACE HACH ULTRA ANALYTICS Switzerland

Water Analysis Instruments
Water Analysis Instruments
Provides multiple analyzer display, individual instrument setup, system alarm indication and printer control functions for ......
ACE HACH ULTRA ANALYTICS Switzerland

High-Sensitivity Wafer Inspection
High-Sensitivity Wafer Inspection
Enable higher throughput and lower cost of ownership while maintaining the required sensitivity with Dual AOD (Acoustic Opt......
ACE KLA-Tencor Corporation 台灣

Airborne Particle Counters
Airborne Particle Counters(KC-22A)
Compact dimensions - Low Weight - High Output - Long Service Life Compact, lightweight, low-cost model with high reliabilit......
ACE 台灣力昂科技股份有限公司 台灣

Airborne Particle Counters
Airborne Particle Counters(KC-20)
For coarse particles measurement: from 10 to 100 micron Flow rate: 30 liter/min Alarm function Optical system :70 deg......
ACE 台灣力昂科技股份有限公司 台灣

Airborne Particle Counters
Airborne Particle Counters(KM-27)
Simultaneous measurement in six ranges (from 0.3 to 10 micron) Large sample flow ensures fast and precise measurement and ......
ACE 台灣力昂科技股份有限公司 台灣

Metrology Systems for Advanced Processes
Metrology Systems for Advanced Processes(FE VII and FE VII-S Systems)
The FE VII™ has a compact footprint, high throughput, and exceptional reliability to provide you with the production ......
ACE Rudolph Technologies, Inc. VIRGINIS.(US)

From Detection to Decision
From Detection to Decision(3Di System)
The 3Di™ Inspection System is specifically designed to fulfill the most critical need of bumped device manufacturers:......
ACE Rudolph Technologies, Inc. VIRGINIS.(US)

Particle監測與控制
Particle監測與控制(LasairII-310)
專利之Parallel Process Array Detector設計，使用Linear Array Detector可除去Background Noise，增加計數準確 高精確度Micro LPC系列：0.05~0.1μm sensiti......
ACE 尚偉股份有限公司 台灣

離線式光碟檢測設備
離線式光碟檢測設備(ETA-ODT)
專利光譜方式精密掃描及測量光碟參數 低投資成本 適用於光碟生產場合 ETA-ODT是適用於多種可錄/預錄光碟格式的多功能光碟檢測設備, 而且 操作步驟簡單容易： 1.置入光碟 2.選擇光碟格式 3.按下開始鍵
ACE 歐斯得科技企業股份有限公司 台灣

Test Handler for Tray
Test Handler for Tray(MH-1032)
High Throughput 3000 UPH Short Index Time 12 sec/32 PCS Sofeware Bin 4 x Tray Row Numbers ......
ACE 威控自動化機械 台灣

Portable GC/MS
Portable GC/MS
INFICON HAPSITE 是全球唯一人力可攜式氣相層析質譜儀，方便用 來偵測潔淨室內的有機污染物及其污染源，亦可非常快速(幾分鐘內)判 定工廠排出氣體，是否已被適當處理。省卻取樣所造成的時間延誤，及 避免樣品的不確定性。內建 GPS 精確......
ACE 英福康有限公司 台灣

自動化巨觀缺陷檢測系統
自動化巨觀缺陷檢測系統(Axi E25 B20)
Axi E25 B20是一台全表面巨觀缺陷邊緣檢測系統，可自動偵測晶圓的正面、背面以及側邊。據報導，這個系統的側邊與背面的檢測模組整合了該公司的正面巨觀缺陷檢測平台，以提供全表面的檢測而不需要額外的傳輸、載入以及對準時間，假如用一個單獨的側邊檢測工具......
ACE Rudolph Technologies, Inc. VIRGINIS.(US)

缺陷量測系統
缺陷量測系統(Expida 1255S)
Expida 1255S系統適用於缺陷量測、故障分析、以及穿透式電子顯微鏡(transmission electron microscope，TEM)樣品準備等應用，它延伸了Expida產品家族的能力，改採用Sirion電子柱並加入一個整合型14段掃......
ACE FEI Company 中國大陸

晶圓缺陷檢測/分類系
晶圓缺陷檢測/分類系(缺陷)
與KLA-Tencor檢測設備一起運作的eDR-5200晶圓缺陷檢視與分類系統，可讓45奈米及以下技術節點的晶圓廠能夠每小時產生較大量高品質的缺陷柏拉圖，以讓工程師能夠採取快速的修正方案以保護其良率。浸潤式的柱狀設計打破了阻礙傳統掃描式電子顯微鏡檢視......
KLA-Tencor 美商科磊股份有限公司臺灣分公司 台灣

全自動錫球檢測機
全自動錫球檢測機(BVA300)
YSPOWER SolderBall Measurement System MODEL:BVA300 使用在BGA .CSP . .MCM. COB. PCB.直徑: 0.1~ 0.76mm 錫球 1.全自動錫球量測設備，速度極快，量測精......
ACE 易盛企業有限公司 台灣

EF-VS331電路板對位系統
EF-VS331電路板對位系統(EF-VS331電路板對位系統)
EF-VS331電路板對位系統 【電路板對位系統描述】 EF-VS331電路板對位系統， 通過兩個攝像機在電路板的左上方和右下方兩個對角線位置同時進行偵測，得出兩個焊點的位置數據，與標準位置進行對比，判斷是否正確，不正確的給出移向正確位置的“上、......
ACE 西安艾菲特光電有限公司 中國大陸

EF-VS332晶片綁定視覺系統
EF-VS332晶片綁定視覺系統(EF-VS332晶片綁定視覺系統)
EF-VS332晶片綁定視覺系統 【系統描述】 在二極體等電子零組件的生產中，晶片綁定需要提供焊接晶片的準確位置，這樣才能控制焊臂保證焊點焊接準確。西安艾菲特光電技術有限公司基於生產實際開發的EF-VS332晶片綁定視覺系統通過圖像辨識和量測的方......
ACE 西安艾菲特光電有限公司 中國大陸

EF-VS320產品缺陷偵測系統
EF-VS320產品缺陷偵測系統(EF-VS320產品缺陷偵測系統)
EF-VS320產品缺陷偵測系統 【產品缺陷偵測系統描述】 在工業生產中，需要對生產出來的產品進行偵測，判斷產品是否合格，包括偵測產品表面缺陷、污漬、形狀以及尺寸等。西安艾菲特光電技術有限公司基於生產實際開發的EF-VS320產品缺陷偵測系統，專......
ACE 西安艾菲特光電有限公司 中國大陸
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