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掃描探針顯微鏡
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儀器介紹 [下載樣本]

PNI 公司背景： 1997 年創建時名稱為Pacific Scanning，是一家專業生產AFM 控制器和其他零部件的企業，主要為全世界大型AFM 公司（包括Thermo Microscopes 公司）提供代工（OEM）服務，2001 年Thermo 被收購後其技術高管（Gary Aden 和Paul West等）便入主Pacific Scanning 公司，並更名為現在的Pacific Nanotechnology 公司。PNI 公司為了更好地服務於中國，與實密國際貿易（上海）有限公司建立了合作關係。PNI 公司融合了美國最新電子學技術和日本Toyo 公司多年SPM 技術支援的實際成果率先開發出高線形掃描器SPM，能夠滿足科研和工業用戶的多方面性能和操作的需要。所有的型號都配備高性能的“Closed Loop”（閉環）控制線性掃描器。

Nano-R2™型掃描探針顯微鏡（SPM）系統是用於科學實驗室的第二代掃描探針顯微鏡。它功能強大，是一款獲取圖像和偵測奈米級特徵結構的多用途掃描探針顯微鏡。Nano-R2™ 掃描探針顯微鏡可以同時使用兩個版本的圖像採集軟體：X-pert™ 專家級和EZ Mode™簡易級，分別適用於專家級用戶和初學用戶。Nano-R2™包括所有AFM採集圖像所需的主機、控制單元、集成設計的光學視頻顯微鏡和自動化XYZ樣品臺，以及圖像顯示軟體和分析軟體。

技術參數

高性能閉環平板式掃描器

X-Y掃描：探針掃描( Tip Scan)
範圍：>80um
線性：<1%

Z-Scan:
範圍：>8um
解析度：<0.1nm

彩色視頻顯微鏡
放大倍數：大於1000
自動放大/聚焦：4
視野：140um*190um
解析度：1.5um

自動X-Y樣品臺：
範圍：25.4 x 25.4 mm
步長：<3um
回轉速率：2.5mm/sec

掃描模式：
—接觸模式
—振動模式
—非接觸模式
—側向力模式
—材料感應模式
—力/距離曲線

選配模式:
-電學模式(EFM/Kevin Probe) :非抬起模式, 採用獨立的鎖相放大器探測
-導電模式(SHARK):電流量測範圍: fA-mA
-磁力模式
-奈米刻蝕 Dip-Pen Nanolithography
-探針加熱模式( SThM, 探針溫度最高可達700攝氏度)
-全新奈米顆粒粒徑分析軟體
-恒溫恒濕環境控制箱
-脈衝力模式 (Pulse Force Mode): 此為PNI公司獨家開發出來, 針對軟物質與黏彈性之量測

說明:

Nano-R2

數量:

價格:

包裝:

完好

發布日期:

2008/4/21 下午 01:54:00

結束日期:

2009/4/21 下午 01:54:00