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精密測量顯微鏡
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光柵數顯型的小型精密測量儀器,能在直角坐標係中進行長度和角度的精 密測量,及Z坐標中的高度比較測量。儀器除採用雙目鏡筒觀察,還可 以附加攝影和CCD裝置,及與電腦連線作圖像和數據處理,是一種理 想的多用途的小型精密測量儀器。 主要技術規格 X---Y軸測量範圍:50×50mm 解析度:0.001mm Z坐標比較測量範圍:1mm 園工作臺分度範圍: 1°/360° 遊標讀數示值:6' 總放大倍數:40×/100×/400× 照明系統:透射,反射和斜照明:12W/8V帶濾色片 |
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| 公司名稱 |
國科光電科技有限責任公司
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| 地址
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北京市海澱區上地三街9號金隅嘉華大廈D座402室,北京;,中國大陸
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| 郵政編碼 |
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| 電話 |
86-10-62972442
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| 傳真 |
86-10-62971170
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| 移動電話 |
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| 聯絡人 |
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