X-熒光鍍層測厚儀<br>(CMI900/950) - B2B貿易平臺

X-熒光鍍層測厚儀
(CMI900/950)

CMI 900 / 950 系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層量測
儀器﹐有著非破壞﹐非接觸﹐多層合金量測﹐高生產力﹐高再現性等優
點的情況下進行表面鍍層厚度的量測﹐從品質管理到成本節約有著廣泛
的應用﹐用於電子零組件﹐半導體﹐PCB﹐汽車零部件﹐功能性電鍍﹐
裝飾件﹐連接器……多個行業表面鍍層厚度的量測﹐為產品品質控制提
供準確﹑快速的分析.基於Windows2000中文視窗系統的中文版
SmartLink FP 應用軟體包﹐實現了對CMI900/950主機的全面自動化控
制﹐

原產地: 美國