PT301D型自動探針測試台

本機為半導體專用設備，功能強大，操作簡便，工作可
靠
穩定，可完成1～6英寸積體電路和分立器件的自動檢
測。
★技術指標：
1、工作行程：X軸200MM ，Y軸250MM，Z軸 5MM.
2、 XY定位精度<±0.005MM/150MM.
3、 XY重複定位精度<±0.003MM.
4、 XY垂直度:< 0.004MM/150MM.
5、 Z平臺重複定位精度:< ±0.003MM.
6、 Z軸解析度：0.0012MM.
7、 Z平臺平面度:<0.015MM.
8、工作步距（X，Y）：公制0.001～9.999MM/英制
0.0001～
0.9999inch.
9、可完成手動、探邊、圓形、環形、矩形五種測試方
式.
10、 PT301D可同時完成兩顆晶片的測試，極大地提高
了測試效率。
11、延時打點數0～9.
12、 Z抬升三重保護,保證針卡高安全性.
13、液晶顯示，中文操作介面.