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1 多功能光學特性檢測系統
產品特點︰
1. 檢測功能包括:穿透率 (transmission)、視感穿透率、反射率
(reflection)、絕對反射率 (absolute reflection)、吸收值 (absorbance)
及薄膜厚度 (film thickness)。
2. 可檢測穿透或反射光譜之CIE色度座標(chromaticity coordinates,
xyz)。
3. 檢測速度︰0.3 秒/樣品。
4. 光譜範圍︰200-850nm(標準), 可依需求選擇其他波長範圍。
5. 精密XY軸移動樣品座,適合各種樣品檢測需求。
6. 可加裝自動化XY軸移動樣品座,成為自動化線上檢測設備。
7. 適用樣品︰光學鍍膜(Oxide, Nitride, Photoresist, Polysislicon, , cell
gap, color filter thickness, as well as polyemide/ITO)、PLED及OLED
薄膜、濾光片、一般玻璃、平滑或粗糙表面樣品、印刷品、發光平面。

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